ATOS在产品检测趋势分析_德国ATOS扫描检测技术_蓝光ATOS扫描抄数服务

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ATOS在产品检测趋势分析和Cp 、Cpk的应用

ATOS 三维扫描仪拥有快速、细节、精度高等特点,因此可以用于产品生产时不同工序、不同进度的跟踪扫描及三维检测。本例为在不同阶段的跟踪检测,以反应各个阶段是否符合预期效果。


下面我们来讲解下各个阶段三维扫描数据

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使扫描资料与CAD对齐后即可获得各个阶段的误差情况,效果如下: 

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以上图片中,暖色系(红色)为正向误差即产品尺寸比设计尺寸大,冷色系(蓝色)为负误差即产品尺寸比设计尺寸小。上图可以清晰反应整个产品在各个阶段的误差情况,从最初误差较大(红蓝色)到误差较小(绿色)的趋势过程,字母M上的色彩变化最为直观明显,由最初超差的红色逐渐转变为合格的绿色。除误差色彩图外,2D线性尺寸和三维形位公差也可进行检测。

ATOS三维扫描仪搭配CAV三维检测软件还可直接应用于Cp、Cpk、Pp、Ppk的统计,以帮助管理生产性能。


长度尺寸

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 形位公差

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上图在本例中评估了宽度和轮廓度,对于其他所需要求亦可进行统计评估。其结果为流程不稳定,较差的工序能力,在生产环节应进行改善,图中图表曲线趋势也反映出其不稳定性。

Cp 和Pp 的含义

Cp/Pp 是指测量到的所有数据均处于由曲线限定的区域里。该值越高,就越确定整个流程介于该规范以内。但这并不说明所有测量值是否处于公差值域之内。这一信息是由额外的Cpk/Ppk 值来提供。

也就是说,Cp/Pp 本身定义的只是流程是否与预定参数相符,但并不说明零件是否处于公差之内。

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Cpk 和Ppk 的含义

Cpk/Ppk 是由一个简单数字表示的指数,该指数测试的是,对比某一流程的自然的变化,该流程与其规范限制之间的关系。指数越高,零件位于规范之外的可能性就越小。

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只有当联系各项公差,同时参看这两个数值,才可以比较出流程的好坏。

Cp 值和 Cpk 值(工序能力)使用的是下级各个组的差异,比如每天两个测量的零件。不过,一般的流程必须位于控制统计之下,即必须符合规范,并且不出现系统错误。此时比较的是公差和缺陷率之间的关系。

Pp 值和 Ppk 值(工序性能)使用的是在一个抽样检验里所有零件的差异(无下级组),比如20 到50 个测量的零件。此时比较的是公差和缺陷率之间的关系。

基于以下各图,可以形象理解Cp 值和 Cpk 值之间的区别。红色内圆表示的是公差范围,各个蓝点代表的是各个数值。

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因为 Cp 值达到2,所以图①显示的是一个稳定的流程,差异不大。但是由于蓝点(各次测量结果)位于公差以外,那么Cpk 值就小于0。优化处理零件尺寸可以帮助解决这些问题。

因为 Cp 值达到0.5,所以图②显示的是一个不稳定的流程,差异很大。由于Cpk 值达到1,测量结果就位于公差以内。优化处理流程可以帮助将差异缩小到最小。

因为 Cp 值达到2,并且只用到一半公差,所以图③显示的是一个稳定的流程,差异不大。测量结果位于公差之内,这是因为符合规范,并且Cpk 值达到1。此时则无需进行优化处理。

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