TRITOP - 光学三维坐标测量系统静态变形分析_光学三维扫描仪_东莞光学三维扫描仪

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TRITOP - 光学三维坐标测量系统静态变形分析

光学三维扫描仪静态变形分析

TRITOP 是一套便携、易用的光学测量系统,能精确定义准静态条件下物点的三维坐标,并由此计算出各种物体和组件的三维位移及形变。

无需在物体上或物体周围安装测量头、布置电缆,从而不会与物体相互干扰,这一特点使非接触式 TRITOP 迅速取代了传统的位移传感器或 LVDT,用以捕捉位移和变形。

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利用 TRITOP 光学三维测量系统,可以生成以下各类测量点参数:

  • 三维坐标

  • 三维位移

  • 变形

  • 弯曲、扭转、挠度

  • 旋转角

  • 六个自由度

  • 相对位移(点 - 点、点 - 线、点 - 面)

这些结果可以用图表形式显示,或直接显示在 CAD 数据上或叠加显示于记录的相机图像上,从而提供直观易懂的结果报告。

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